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最新！最全！探針臺(tái)的分類(lèi)

2024-07-18 15:46

隨著國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體行業(yè)的飛速發(fā)展，在芯片研發(fā)和制造過(guò)程中，對(duì)設(shè)備的測(cè)試能力要求越來(lái)越高，我們需要根據(jù)芯片的各種測(cè)試要求提供不同的探針平臺(tái)，通常情況下，我們可以按照以下幾種分類(lèi)方式進(jìn)行選擇：

1.按操作方式可分為：

手動(dòng)型、半自動(dòng)型、全自動(dòng)型；

2.按應(yīng)用及測(cè)試環(huán)境可分為：

高頻、射頻及微波測(cè)試探針臺(tái)、高/低溫環(huán)境測(cè)試探針臺(tái)、高/低溫真空環(huán)境測(cè)試探針臺(tái)、低噪聲(fA級(jí))測(cè)試探針臺(tái)、高壓/大電流測(cè)試探針臺(tái)、特殊氣體環(huán)境測(cè)試探針臺(tái)、磁場(chǎng)環(huán)境測(cè)試探針臺(tái)、雙面點(diǎn)針測(cè)試探針臺(tái);

3.按測(cè)試樣品分類(lèi)可分為：

晶圓測(cè)試探針臺(tái)、LED測(cè)試探針臺(tái)、功率器件測(cè)試探針臺(tái)、MEMS測(cè)試探針臺(tái)、PCB測(cè)試探針臺(tái)、液晶面板測(cè)試探針臺(tái)、太陽(yáng)能電池片測(cè)試探針臺(tái)、材料表面電阻率測(cè)試探針臺(tái)、納米器件測(cè)試探針臺(tái)；

4.按特殊應(yīng)用測(cè)試分為：非標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)結(jié)構(gòu)測(cè)試探針臺(tái)；
一般情況下，先根據(jù)操作方式選擇探針臺(tái)類(lèi)型后，再按應(yīng)用及測(cè)試環(huán)境、測(cè)試樣品分類(lèi)進(jìn)一步選擇探針臺(tái)類(lèi)型，手動(dòng)探針臺(tái)、半自動(dòng)探針臺(tái)和全自動(dòng)探針臺(tái)是三種不同類(lèi)型的探針臺(tái)，它們?cè)谑褂妙?lèi)型、功能、操作方式和價(jià)格等方面都有所不同。手動(dòng)探針臺(tái)多用于教學(xué)、研發(fā)設(shè)計(jì)階段，半自動(dòng)探針臺(tái)多用于研發(fā)和小批量量產(chǎn)階段，可以適應(yīng)多種測(cè)試要求，提高測(cè)試效率，全自動(dòng)探針臺(tái)主要應(yīng)用于量產(chǎn)型的WAT和CP測(cè)試。